2013年度日本分析学会先端分析技術賞JAIMA機器開発賞を受賞し、表彰されました

2013年度日本分析学会先端分析技術賞JAIMA機器開発賞の受賞式が日本分析化学会第62年会にて行われ、弊社代表取締役社長 谷口一雄が 表彰されました。

授賞式は9月11日に近畿大学11月ホールで行われ、分析化学会会長寺前紀夫(東北大学教授)氏より「賞記」が、また日本分析機器工業会 (JAIMA)会長服部重彦(島津製作所会長)氏よりメダルなどの副賞が授与されました。

分析化学会近畿支部長 加納健司氏(京都大学農学研究科教授)は推薦書の最後に、「谷口君が所属する㈱テクノエックスが開発・製造し,㈱アナリティクイエナジャパンを通して販売 した「放射性セシウム連続測定装置」は同君のX線要素技術に関わる長い研究活動とその要素部材を活用した小型蛍光X線分析装置の開発の成果の結果 として生み出されたものである。また,その装置の開発と市場への迅速な提供は原発事故に対して緊急に対処しなければならない高い社会的要請に日本 の分析機器開発企業として極めて適切に応えたものである。」として近畿支部より推薦をしていただきました。

分析化学会会長寺前紀夫(東北大学教授)氏より「賞記」が授与されたました。

 

日本分析機器工業会 (JAIMA)会長服部重彦(島津製作所会長)氏よりメダルと副賞が授与されました。

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  表彰状とメダル                 受賞内容はPDFをご覧ください。

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