弊社代表取締役社長谷口一雄が日本分析化学会から栄えある分析学会功労賞を授かる

9月9日~12日の期間、東京理科大学大学葛飾キャンパスで開催された日本分析化学会第66回年会において、日本分析学会功労賞を授かりました。授賞理由は「X線および放射線計測技術の開発と学会への貢献」とし、大学時代および㈱テクノエックスでのX線および放射線計測技術の一連の開発に対してその功績が認められたもので有ります。

この受賞はひとえに弊社にご支援いただいております、関係各位の皆様方のご支援の賜物であり、誠に光栄と存じ、併せて感謝申し上げます。

弊社はこの受賞を糧に全社員一丸となり益々社会に貢献できる製品の開発を目指します。今後とも皆様方のご指導、ご鞭撻をお願いし、併せて感謝申し上げます。(分析学会誌8月号に掲載された、受賞理由:PDF)

 

9月11日東京理科大学大学葛飾キャンパスでの授賞式で 岡田会長より賞記を授かる弊社社長

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