波長分散技術を活用した新規エネルギー分散型蛍光X線分析技術の知的資産化のご紹介(米国特許登録に伴い2016年10月4日追記)

弊社開発の新型蛍光X線 分析装置TW-10は波長分散技術を活用したエネルギー分散型蛍光X線分析装置で最高の性能が得られます。 この技術の素晴らしい独創性が認められ、日、独両国の特許を既に取得し、このたび米国でも登録査定の結果を得ました。この2016年9月20日に米国特許登録され、日独米の3か国で特許としてこの技術が認められています。

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図1.当該特許技術を用いた新型蛍光X線分析装置TW-10

 

当社は今後この技術を活用し、新規なエネルギー分散型蛍光X線 装置を世界に送り出します。 エネルギー分散型蛍光X線装置の世界におけるリーディングカンパニーとして、最高性能の分析装置を提供してまいります。ご期待くださ い。

表1.本特許技術の各国登録状況

ドイツ 102012112866.9 Röntgenfluoreszenzspektrometer und Röntgenfluoreszenzanalysator 2015年2月19日
日本 特許5907375 「蛍光X線分析装置及び蛍光X線分析方法」 2016年4月26日
米国 US 9,448,191 B2 ”X-Ray Fluorescence Spectrometer and X-Ray Fluorescence Analyzer” 2016年9月20日

 

特許の概要

 

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                                                           図2.特許内容の概要図

本特許の特徴は、試料から出てくるさまざまなX線の中から、対象微量元素の蛍光X線と散乱X線の両者を それぞれに対応した結晶分光技術(波長分散技術)を用いて選び出し、その2つのX線を 1つのエネルギー分散型のX線検出器で検出することにより、微量元素に対しても高精度で分析できる点です。 これまでの既存の技術では結晶分光技術で対象となるX線を切り出した場合には切り出したX線の数だけの 検出器が必要でした。これは使っているX線検出器のエネルギー分解能がほとんどないために違うエネルギーの X線がきても区別できずに、同じものとして合計の強度しかわかりません。したがって結晶分光で選んだ X線ごとに検出器が必要となります。一方、我々が開発したエネルギー分散型のX線検出器では X線のエネルギーごとにX線の強度が計測できるために、2つ以上の異なるエネルギーのX線を一つの 検出器でも分別して測定できます。例えれば既存の波長分散技術の検出器は白黒カメラで色(X線の エネルギー)を分けても一つの白黒カメラでは分離できないのに対して、本特許ではカラーカメラによって 色(X線のエネルギー)ごとの明るさ(X線の強さ)が一つのカメラで分かることに対応します。 ただし結晶分光技術を使って、対象となるエネルギーのX線を切り出さなければ、測定対象外の他のX線が 邪魔をして高精度の分析は不可能です。本特許は、エネルギー分散型X線検出技術と波長分散型X線分散技術に 両者に精通し、両者のメリットを活かしきれるノウハウを有する弊社だからこそ提案できた特許と自負しています。

この技術は蛍光X線と散乱線のみならず、蛍光X線同士を含めて幅広い対象に応用可能です。 例えば、オイル中のSやP,Clなどのサブppm微量元素の高精度分析や、大量、%レベルのSに隠れている、 ppmレベルのClの分析等など、さまざまな分野で利用が可能です。

2016年6月20日 第1報
2016年10月4日 第2報 米国特許取得

 

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