JASISに参加、出展いたしました

アジア最大級、分析機器・科学機器専門展示会 JASIS に出展いたしました。多くの方にブース、新技術説明会にご来訪いただき、心より御礼申し上げます。

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開催期間:2016年9月7日(水)~2016年9月9日(金)
場  所:幕張メッセ国際展示場 ブースNo.6B-601
出展装置:FD-J/FD-02/FD-03/TW-10/FD-10/FD-20/FD-25

 

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 セミナー

食品・化粧品中の極微量有害重金属分析と超軽元素(C,O,F)分析を実現―X線分析装置
日時 9月7日(水)11:50~12:15
場所 N-1
内容 新開発ダブル励起源と単色光学系での食品・化粧品中有害元素の極微量(数10ppb)分析と超軽元素(C, O,F)分析

石油精製品中のAl, Si, P, S, Clの超高感度分析を実現した新型蛍光X線分析装置
日時 9月8日(木)10:30~10:55
場所 A-8
内容 単色励起源と高感度・高分解能分光システムを用いたEDXRFによる石油精製品中の微量Al, Si, P, S, Cl分析

食品・電子部品中の異物の特定・マッピングによる光学像と元素像を表示―X線分析装置
日時 9月9日(金)10:30~10:55
場所 A-8
内容 食品中や電子部品中の異物を特定し、マッピングによる光学像と元素像を表示。更に通常の分析でppmの感度を有する分析装置

 

 

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